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蔡司Sigma 300 場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡

所屬欄目:行業(yè)新聞作者:越聯(lián)儀器點(diǎn)擊率:發(fā)布時(shí)間:2019-10-14 13:52:39

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蔡司Sigma 300 場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡.jpgZZX拉力機_材料試驗機_剝離力試驗機_快速溫變試驗箱-越聯(lián)儀器

產(chǎn)品描述ZZX拉力機_材料試驗機_剝離力試驗機_快速溫變試驗箱-越聯(lián)儀器

蔡司公司最新推出Sigma300場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡采用成熟的GEMINI光學(xué)系統設計,將低電壓成像技術(shù)發(fā)揮到了極致,采用適宜的探針電流范圍,降低50%的信噪比從而提升了85%的襯度信息。Sigma300將高級的分析性能與場(chǎng)發(fā)射掃描技術(shù)相結合,多種探測器可選:用于顆粒、表面或者納米結構成像。Sigma自動(dòng)的四步工作流程大大節省了設置與分析操作的時(shí)間,提高效率。ZZX拉力機_材料試驗機_剝離力試驗機_快速溫變試驗箱-越聯(lián)儀器

產(chǎn)品應用ZZX拉力機_材料試驗機_剝離力試驗機_快速溫變試驗箱-越聯(lián)儀器

掃描電鏡(SEM)廣泛地應用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等 檢驗和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進(jìn)行材料的微觀(guān)形貌、組織、成分分析,各種材料的形貌組織觀(guān)察,材料斷口分   析和失效分析,材料實(shí)時(shí)微區成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面掃描和線(xiàn)掃描分布測量,晶體、晶粒的相鑒定,晶粒尺寸、形狀分析,晶體、晶 粒取向測量。ZZX拉力機_材料試驗機_剝離力試驗機_快速溫變試驗箱-越聯(lián)儀器

技術(shù)參數ZZX拉力機_材料試驗機_剝離力試驗機_快速溫變試驗箱-越聯(lián)儀器

  • 分辨率:1.0nm@30kV STEM 、1.0nm @15 kV  、1.8nm @1kV
  • 放大倍數:10-1,000,000×
  • 加速電壓:調整范圍:0.02-30 kV(無(wú)需減速模式實(shí)現)
  • 探針電流: 3pA~20nA(100nA選配)  穩定性?xún)?yōu)于 0.2%/h
  • 低真空范圍: 2-133Pa (Sigma 300VP可用)
  • 樣品室: 365 mm(φ),275mm(h)
  • 樣品臺:5軸優(yōu)中心全自動(dòng)    X=125mm  Y=125 mm  Z=50 mm  T=-10o-90o  R=360o 連續
  • 系統控制:基于Windows 7的SmartSEM操作系統,可選鼠標、鍵盤(pán)、控制面板控制
  • 存儲分辨率:32k x 24k pixels

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