用途

霍梅爾T8000SC粗糙輪廓度綜合測量?jì)x配置了分辨率極高的探測系統，同時(shí)測定粗糙度和輪廓。幾何參數以及粗糙度特征數據在一個(gè)流程中的評價(jià)。此測量系統性?xún)r(jià)比良好，具備的測量功能和能力可以和復雜的實(shí)驗室測量系統媲美。

技術(shù)特點(diǎn)

?分辨率出色，6mm測量范圍的分辨率是6nm；

?僅在一個(gè)測量范圍內便具備完整的分辨率；

?測量力可調；

?測頭電動(dòng)抬起/下降，所以測量流程自動(dòng)；

?模塊化結構，可拓展。

主要特點(diǎn)

?粗糙度測量和輪廓共用一個(gè)探測系統；

?測量斜面和曲面的粗糙度；

?由于測量范圍大，所以測量系統不再需要相對工件表面定位；

?磁性測頭臂支架，測頭臂更換迅速可靠；

?用于評價(jià)粗糙度和輪廓特征的軟件功能廣泛。

針對不同測量任務(wù)，磁性測頭臂支架保證了測頭臂的更換迅速、簡(jiǎn)單、可靠。

配置了wavecontour™surfscan 探測系統的粗糙度輪廓綜合測量?jì)x正在測量滾珠絲桿。

選項

?通過(guò)電動(dòng)傾斜單元和CNC軟件實(shí)現完整的CNC功能；

?用于特殊測量需求的粗糙度和輪廓測頭臂；

?經(jīng)過(guò)認證的qs-STAT接口（AQDEF）；

?輪廓標準塊KN8；

?wavecontrol™操作面板；

?儀器臺GTR。

供貨范圍

?帶19'TFT顯示屏的評價(jià)電腦，CD刻錄器，粗糙度和輪廓測量評價(jià)軟件；

?具有自動(dòng)保存功能的PDF打印機；

?帶自動(dòng)探測功能的電動(dòng)測量立柱wavelift™400；

?帶增量值光柵尺的進(jìn)給裝置waveline™120advanced；

?進(jìn)給裝置的傾斜和緊固單元，回轉范圍±45°，精回轉范圍±5°；

?帶10mm T槽的硬巖石板；

?wavecontour™surfscan測頭，包含金剛石探測頭和紅寶石探頭的兩個(gè)測頭臂；

?粗糙度標準塊RNDH2；

?用于緊固工件的測量臺MT1 XYO；

?校準用附件一套。

技術(shù)參數