基于 ZEISS METROTOM 的工業(yè)計算機斷層掃描（CT）

利用蔡司的工業(yè)計算機斷層掃描系統，僅需一次X射線(xiàn)掃描，即可順利完成工件的測量和檢驗。標準的驗收檢測、精密工程和完善的校準程序可確保系統的追蹤性。配備線(xiàn)性導軌及轉臺，滿(mǎn)足客戶(hù)對精度的高要求。

測量與檢驗整體部件

ZEISS METROTOM是一種用于測量和檢驗塑料或輕金屬部件的工業(yè)計算機斷層掃描測量系統。而在利用傳統測量機測量時(shí)，此類(lèi)隱藏性的結構信息只有將零件通過(guò)費時(shí)的層層破壞方能獲得。

輕松且精準地進(jìn)行多樣化特征檢測

利用ZEISS METROTOM計算機斷層掃描系統可一次掃描海量的零部件特征。這些測量結果非常精準，且具可追溯性。和接觸式測量方法不同，ZEISS METROTOM 獲取海量測量點(diǎn)時(shí)，時(shí)間顯著(zhù)縮短。

直觀(guān)簡(jiǎn)易的軟件操作

僅需通過(guò)短時(shí)間的ZEISS METROTOM OS軟件培訓課程，操作人員即可對零件進(jìn)行掃描，透視零件的內部。利用ZEISS CALYPSO可評估CT數據，再利用ZEISS PiWeb即可快速地將兩者融合于同一份測量報告中。