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廣東越聯(lián)儀器有限公司
實(shí)驗室設計、規劃、儀器系統集成方案解決服務(wù)
全國咨詢(xún)熱線(xiàn):
0769-85842789
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0769-85842789所屬欄目：測試標準作者：越聯(lián)儀器點(diǎn)擊率：發(fā)布時(shí)間：2017-07-10 14:51:20
1、GB/T 2421-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第一部分：總則
2、GB/T 15844.2-1995 移動(dòng)通信調頻無(wú)線(xiàn)電話(huà)機環(huán)境要求和實(shí)驗方法
3、GB/T 15844.3-1995 移動(dòng)通信調頻無(wú)線(xiàn)電話(huà)機可靠性要求及實(shí)驗方法
4、GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第1部分：實(shí)驗方法 試驗A：低溫
5、GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：實(shí)驗方法 試驗B：高溫
6、GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：實(shí)驗方法 試驗Ed：自由跌落
7、GB/T 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：實(shí)驗方法 試驗Fc和導則：振動(dòng)
8、GB/T 2423.3-93 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法
9、GB4943-2001 信息技術(shù)設備的安全
10、GB/T 17626.2-1998 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 靜電放電抗擾度試驗
11、YD/T 1215-2002 GSM900/1800MHzTDMA數字蜂窩移動(dòng)通信網(wǎng)通用分組無(wú)線(xiàn)業(yè)務(wù)（GPRS）設備測試方法：移動(dòng)臺
12、YD 1032-2000 GSM900/1800MHz TDMA數字蜂窩移動(dòng)通信系統電磁兼容性限值和測量方法第一部分：移動(dòng)臺及其設備
13、信息產(chǎn)業(yè)部科技司- 移動(dòng)電話(huà)機入網(wǎng)檢驗細則
7.1.1 室溫下參數測試 （Parametric Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的： 測試預檢查
測試方法：使用8960/8922測試儀，參照附件1（下同）項目列表，對所有樣品進(jìn)行參數指標預測試并保存測試結果。
測試標準：所有附件1中參數指標正常，功能正常。
7.1.2 溫度沖擊測試（Thermal Shock）
測試環(huán)境：低溫箱：-30° C ；高溫箱：+70° C
測試目的：通過(guò)高低溫沖擊進(jìn)行樣品應力篩選
試驗方法：使用高低溫沖擊箱，手機帶電池，設置成關(guān)機狀態(tài)先放置于高溫箱內持續45分鐘后，在15秒內迅速移入低溫箱并持續45分鐘后，再15秒內迅速回到高溫箱。此為一個(gè)循環(huán)，共循環(huán)27次。實(shí)驗結束后將樣機從溫度沖擊箱（高溫箱）中取出，恢復2小時(shí)后進(jìn)行外觀(guān)、機械和電性能檢查。對于翻蓋手機，應將一半樣品打開(kāi)翻蓋；對于滑蓋手機，應將一半樣品滑開(kāi)到上限位置。
試驗標準：手機表面噴涂無(wú)異變，結構無(wú)異常，功能正常，可正常撥打電話(huà)。
7.1.3 跌落試驗（Drop Test）
測試條件：1.5m高度，20mm厚大理石地板。（對于PDA手機,根據所屬公司質(zhì)量部門(mén)的建議可調整為跌落高度為1.3m）
測試目的： 跌落沖擊試驗
試驗方法：將手機處于開(kāi)機狀態(tài)進(jìn)行跌落。對于直握手機，進(jìn)行6個(gè)面的自由跌落實(shí)驗，每個(gè)面的跌落次數為1次，每個(gè)面跌落之后進(jìn)行外觀(guān)、結構和功能檢查。對于翻蓋手機，進(jìn)行8個(gè)面的自由跌落實(shí)驗；其中一半樣品合上翻蓋按直握手機的方法進(jìn)行跌落，另一半樣品在跌正面和背面時(shí)須打開(kāi)翻蓋；對于滑蓋手機，應將一半樣品滑開(kāi)到上限位置。跌落結束后對外觀(guān)、結構和功能進(jìn)行檢查。
試驗標準：手機外觀(guān)，結構和功能符合要求。
7.1.4 振動(dòng)試驗（Vibration Test）
測試條件：振幅：0.38mm/振頻：10~30Hz；振幅：0.19mm/振頻：30~55Hz；
測試目的： 測試樣機抗振性能
試驗方法：將手機開(kāi)機放入振動(dòng)箱內固定夾緊。啟動(dòng)振動(dòng)臺按X、Y、Z三個(gè)軸向分別振動(dòng)1個(gè)小時(shí)，每個(gè)軸振完之后取出進(jìn)行外觀(guān)、結構和功能檢查。三個(gè)軸向振動(dòng)試驗結束后，對樣機進(jìn)行參數測試。
試驗標準：振動(dòng)后手機內存和設置沒(méi)有丟失現象，手機外觀(guān)，結構和功能符合要求，參數測試正常，晃動(dòng)無(wú)異響。
7.1.5 濕熱試驗（Humidity Test）
測試環(huán)境：60° C，95%RH
測試目的： 測試樣機耐高溫高濕性能
試驗方法：將手機處于關(guān)機狀態(tài)，放入溫濕度實(shí)驗箱內的架子上，持續60個(gè)小時(shí)之后取出，常溫恢復2小時(shí)，然后進(jìn)行外觀(guān)、結構和功能檢查。對于翻蓋手機，應將一半樣品合上翻蓋，一半樣品
開(kāi)翻蓋；對于滑蓋手機，應將一半樣品滑開(kāi)到上限位置。
試驗標準：手機外觀(guān)，結構和功能符合要求。
7.1.6 靜電測試（ESD）
測試條件：+/-4kV~+/-8kV。
測試目的： 測試樣機抗靜電干擾性能
試驗方法：將樣機設置為開(kāi)機狀態(tài)，檢查樣機內存和功能。（內存10條短信息和10個(gè)電話(huà)號碼；使用功能正常）。將樣機放于靜電測試臺的絕緣墊上，并且用充電器加電使手機處于充電狀態(tài)（樣機與絕緣墊邊緣距離至少2英寸；兩個(gè)樣機之間的距離也是至少2英寸）。
打開(kāi)靜電模擬器，調節放電方式，分別選擇+/-4kV(接觸放電)，~+/-8kV（空氣放電），對手機指定部位連續放電10次，并對地放電。每做完一個(gè)部位的測試，檢查手機功能、信號和靈敏度，并觀(guān)察手機在測試過(guò)程中有無(wú)死機，通信鏈路中斷，LCD顯示異常，自動(dòng)關(guān)機及其他異常現象。樣機需在與8922測試儀建立起呼叫連接的狀態(tài)下進(jìn)行各個(gè)放電方式、級別和極性的測試。
試驗標準：在+/-4Kv 和 +/-8Kv時(shí)出現任何問(wèn)題都要被計為故障。
備注：靜電釋放位置的確定要依據產(chǎn)品的具體情況進(jìn)行定義。
7.1.7室溫下參數測試 （Parametric Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；測試目的： 測試結束后參數對比
測試方法：使用8960/8922測試儀，參照附件1項目列表，對所有樣品進(jìn)行參數指標測試。
測試標準：所有附件1中參數指標正常，功能正常。
一般氣候性測試 惡劣氣候性測試
A： 一般氣候性測試：
7.2.1.高溫/低溫參數測試（Parametric Test）
測試環(huán)境：-10° C /+55° C
測試目的：高溫/低溫應用性性能測試
試驗方法：將手機電池充滿(mǎn)電，手機處于開(kāi)機狀態(tài)，放入溫度實(shí)驗箱內的架子上，調節溫度控制器到-10° C /+55°C。持續2個(gè)小時(shí)之后在此環(huán)境下進(jìn)行電性能參數和功能檢查。對于翻蓋手機，應將一半樣品合上翻蓋，一半樣品打開(kāi)翻蓋；對于滑蓋手機，應將一半樣品滑開(kāi)到上限位置。
試驗標準：手機電性能參數指標滿(mǎn)足要求，功能正常，外殼無(wú)變形。
7.2.2.高溫高濕參數測試（Parametric Test）
測試環(huán)境：+45° C，95%RH
測試目的：高溫高濕應用性性能測試
試驗方法：將手機電池充滿(mǎn)電，手機處于開(kāi)機狀態(tài)，放入溫度實(shí)驗箱內的架子上。持續48個(gè)小時(shí)之后，然后在此環(huán)境下進(jìn)行電性能檢查，檢查項目見(jiàn)附表1。對于翻蓋手機，應將一半樣品合上翻蓋，一半樣品打開(kāi)翻蓋；對于滑蓋手機，應將一半樣品滑開(kāi)到上限位置。
試驗標準：手機電性能指標滿(mǎn)足要求，功能正常，外殼無(wú)變形。
7.2.3.高溫/低溫功能測試（Functional Test）
測試環(huán)境：-40° C /+70° C
測試目的：高溫/低溫應用性功能測試
試驗方法：將手機處于關(guān)機狀態(tài)，放入溫度實(shí)驗箱內的架子上。持續24個(gè)小時(shí)之后，取出，并放置2小時(shí)，恢復至常溫，然后進(jìn)行結構，功能和電性能檢查。對于翻蓋手機，應將一半樣品合上翻蓋，一半樣品打開(kāi)翻蓋；對于滑蓋手機，應將一半樣品滑開(kāi)到上限位置。
試驗標準：手機電性能指標滿(mǎn)足要求，功能正常，外殼無(wú)變形。
B：惡劣氣候性測試
7.2.4.灰塵測試（Dust Test）
測試環(huán)境：室溫
測試目的：測試樣機結構密閉性
試驗方法：將手機關(guān)機放入灰塵實(shí)驗箱內。灰塵大小300目，持續3個(gè)小時(shí)之后，將手機從實(shí)驗箱中取出，用棉布和離子風(fēng)槍清潔后進(jìn)行檢查。對于翻蓋手機，應將一半樣品合上翻蓋，一半樣品
開(kāi)翻蓋；對于滑蓋手機，應將一半樣品滑開(kāi)到上限位置。
試驗標準：手機各項功能正常，所有活動(dòng)元器件運轉自如，顯示區域沒(méi)有明顯灰塵。
7.2.5.鹽霧測試（Salt fog Test）
測試環(huán)境：35° C
測試目的：測試樣機抗鹽霧腐蝕能力
試驗方法：
溶液含量：5%的氯化鈉溶液。
將手機關(guān)機放在鹽霧試驗箱內，合上翻蓋，樣機用繩子懸掛起來(lái)，以免溶液噴灑不均或有的表面噴不到。樣機需要立即被放入測試箱。實(shí)驗周期是48個(gè)小時(shí)。實(shí)驗過(guò)程中樣機不得被中途取出，如果急需取出測試，要嚴格記錄測試時(shí)間，該實(shí)驗需向后延遲相同時(shí)間。取出樣機后，用棉布和離子風(fēng)槍清潔，放置48小時(shí)進(jìn)行常溫干燥后，對其進(jìn)行外觀(guān)、機械和電性能檢查。
試驗標準：手機各項功能正常，外殼表面及裝飾件無(wú)明顯腐蝕等異常現象。
7.3.1.按鍵測試（Keypad Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：按鍵壽命測試
測試數量：2臺手機。
測試方法：將手機設置成關(guān)機狀態(tài)固定在測試夾具上，導航鍵及其他任意鍵進(jìn)行10萬(wàn)次按壓按鍵測試。進(jìn)行到3萬(wàn)次、5萬(wàn)次、8萬(wàn)次、10萬(wàn)次時(shí)各檢查手機按鍵彈性及功能一次。實(shí)驗中被測試的鍵的選擇根據不同機型進(jìn)行確定并參考工程師的建議，應盡量不重復，盡可能多。試驗標準：手機按鍵彈性及功能正常。
7.3.2.側鍵測試（Side Key Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：側鍵壽命測試
測試數量：1臺手機
測試方法：將手機設置成關(guān)機狀態(tài)固定在測試夾具上，對側鍵進(jìn)行10萬(wàn)次按壓按鍵測試。進(jìn)行到3萬(wàn)次、5萬(wàn)次、8萬(wàn)次、10萬(wàn)次時(shí)各檢查手機按鍵彈性及功能一次。
試驗標準：手機按鍵彈性及功能正常。
7.3.3.翻蓋測試（Flip Life Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：翻蓋壽命測試
測試數量：4臺手機。
測試方法：將手機設置成開(kāi)機狀態(tài)，固定在測試夾具上，進(jìn)行5萬(wàn)次開(kāi)合翻蓋測試。進(jìn)行到3萬(wàn)次、4萬(wàn)次、4. 5萬(wàn)次、5萬(wàn)次時(shí)進(jìn)行手機翻蓋彈性及功能一次。
試驗標準：5萬(wàn)次后，手機外觀(guān)，結構，及功能正常。
7.3.4.滑蓋測試（Slide Life Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：滑蓋壽命測試
測試數量：4臺手機。
測試方法：將手機設置成開(kāi)機狀態(tài)，固定在測試夾具上，進(jìn)行5萬(wàn)次滑蓋測試。進(jìn)行到3萬(wàn)次、4萬(wàn)次、4. 5萬(wàn)次、5萬(wàn)次時(shí)進(jìn)行手機滑蓋手感及功能一次。
試驗標準：5萬(wàn)次后，手機外觀(guān)，結構，及功能正常,滑蓋不能有松動(dòng)(建議:垂直手機時(shí)不能有自動(dòng)下滑的現象)
7.3.5. 重復跌落測試（Micro-Drop Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；7cm高度 ,20mmPVC板
測試目的：樣機跌落疲勞測試
測試數量：2臺。
測試方法：手機處于開(kāi)機狀態(tài)，做手機正面及背面的重復跌落實(shí)驗，每個(gè)面的跌落次數為20,000次。進(jìn)行到1萬(wàn)次、1.5萬(wàn)次、1.8萬(wàn)次、2萬(wàn)次時(shí)各檢查對手機進(jìn)行外觀(guān)、機械和電性能的中間檢查。
測試標準：手機各項功能正常，外殼無(wú)變形、破裂、掉漆，顯示屏無(wú)破碎，晃動(dòng)無(wú)異響。
7.3.6. 充電器插拔測試（Charger Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：充電器插拔]壽命測試
測試數量：2臺手機。
試驗方法：將充電器接上電源，連接手機充電接口，等待手機至充電界面顯示正常后，拔除充電插頭。在開(kāi)機不插卡狀態(tài)下插拔充電3000次。進(jìn)行到2000次、2500次和3000次時(shí)進(jìn)行中間/結束檢查一次。
檢驗標準：I/O接口無(wú)損壞，焊盤(pán)無(wú)脫落，充電功能正常。無(wú)異常手感。
7.3.7.筆插拔測試（Stylus Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：手機手寫(xiě)筆插拔壽命測試
測試數量：2臺手機。
試驗方法：將手機處于開(kāi)機狀態(tài)，筆插在手機筆插孔內，然后拔出，反復20，000次。進(jìn)行到1萬(wàn)次、1萬(wàn)5千次、1萬(wàn)8千次、2萬(wàn)次時(shí)檢查手機筆插入拔出結構功能、外殼及筆是否正常。
檢驗標準：手機筆輸入功能正常，插入拔出結構功能、外殼及筆均正常。
7.３.８點(diǎn)擊試驗 (Point Activation Life Test)
試驗條件：觸摸屏測試儀（接觸墊尖端半徑為3.75mm；硬度為40deg的硅樹(shù)脂橡膠）
測試目的：觸摸屏點(diǎn)擊壽命測試
樣品數量：1臺
試驗方法：將手機設置為開(kāi)機狀態(tài)，點(diǎn)擊LCD的中心位置250,000次，點(diǎn)擊力度為250g；點(diǎn)擊速度：2次/秒；
檢驗標準：不應出現電性能不良現象；表面不應有損傷
7.３.9劃線(xiàn)試驗 (Lineation Life Test)
試驗條件：觸摸屏測試儀，直徑為0.8mm的塑料手寫(xiě)筆或隨機附帶的手寫(xiě)筆
測試目的：觸摸屏劃線(xiàn)疲勞測試
樣品數量：1臺
試驗方法：將手機設置為關(guān)機狀態(tài)，在同一位置劃線(xiàn)至少100,000次，力度為250g；
滑行速度：60mm/秒
檢驗標準：不應出現電性能不良現象；表面不應有損傷
7.3.10.電池/電池蓋拆裝測試（Battery/Battery Cover Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：電池/電池蓋拆裝壽命測試
測試數量：2臺。
試驗方法：將電池/電池蓋反復拆裝2000次。進(jìn)行到1500次、1800次和2000次時(shí)檢查手機及電池/電池蓋各項功能、及外觀(guān)是否正常。
檢驗標準：手機及電池卡扣功能正常無(wú)變形，電池觸片、電池連接器應無(wú)下陷、變形及磨損的現象，外觀(guān)無(wú)異常。
7.3.11. SIM Card 拆裝測試（SIM Card Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：SIM卡拆裝壽命測試
測試數量：2臺手機。
試驗方法：插上SIM卡，然后取下SIM卡，再重新裝上，反復1000次，每插拔100次檢查開(kāi)機是否正常，讀卡信息正常。
檢驗標準：SIM卡觸片、SIM卡推扭開(kāi)關(guān)正常，手機讀卡功能使用正常。
7.3.12. 耳機插拔測試（Headset Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：耳機插拔壽命測試
測試數量：2臺手機。
試驗方法：將手機處于開(kāi)機狀態(tài)，耳機插在耳機插孔內，然后拔出，反復3000次。進(jìn)行到2000、2500次和3000次時(shí)各檢查一次。
檢驗標準：實(shí)驗后檢查耳機插座無(wú)焊接故障，耳機插頭無(wú)損傷，使用耳機通話(huà)接收與送話(huà)無(wú)雜音（通話(huà)過(guò)程中轉動(dòng)耳機插頭），耳機插入手機耳機插孔時(shí)不會(huì )松動(dòng)（可以承受得住手機本身的重量）。
7.3.13.導線(xiàn)連接強度試驗（Cable Pulling Endurance Test－－Draft）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：導線(xiàn)連接強度測試
實(shí)驗方法：選取靠近耳塞的一段導線(xiàn)，將其兩端固定在實(shí)驗機上，用10N±1N的力度持續拉伸6秒，循環(huán)100次。（其它造型的導線(xiàn)可采納工程師的建議來(lái)確定循環(huán)次數）
檢驗標準：導線(xiàn)功能正常。被覆外皮不破裂，變形。
7.3.14.導線(xiàn)折彎強度試驗（Cable Bending Endurance Test－－Draft）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：導線(xiàn)折彎疲勞測試
實(shí)驗方法：分別選取靠近耳塞和靠近插頭的一段導線(xiàn)，將導線(xiàn)的兩端固定在實(shí)驗機上，做0mm~25mm做折彎實(shí)驗3000次。（其它造型的導線(xiàn)可采納工程師的建議來(lái)確定循環(huán)次數）
檢驗標準：導線(xiàn)功能正常被覆外皮不破裂，變形。
7.3.15.導線(xiàn)擺動(dòng)疲勞試驗（Cable Swing Endurance Test－－Draft）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：導線(xiàn)擺動(dòng)疲勞測試
實(shí)驗方法:分別將耳機和插頭固定在實(shí)驗機上，用1N的力，以180°的角度反復擺動(dòng)耳機末端3000次。（其它造型的導線(xiàn)可采納工程師的建議來(lái)確定循環(huán)次數）
檢驗標準：導線(xiàn)功能正常被覆外皮不破裂。
7.4 表面裝飾測試 （Decorative Surface Test）
測試周期：4 天。
樣品標準數量：每種顏色6 套外殼。
測試流程：
7.4.1.磨擦測試（Abrasion Test - RCA）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：印刷/噴涂抗摩擦測試
試驗方法：將最終噴樣品涂固定在RCA試驗機上，用175g力隊同一點(diǎn)進(jìn)行摩擦試驗。每隔50次檢查樣品的表面噴涂。對于表面摩擦300cycles，側棱摩擦150Cycles。特殊形狀的手機摩擦點(diǎn)的
定由測試工程師和設計工程師共同確定。
檢驗標準：耐磨點(diǎn)涂層不能脫落，不可露出底材質(zhì)地（對于噴涂、電鍍、IMD）；圖案或字體不能缺損、不清晰（對于絲印、按鍵）。
7.4.2.附著(zhù)力測試（Coating Adhesion Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：噴涂附著(zhù)力測試
試驗方法：選最終噴涂的手機外殼表面，使用百格刀刻出100個(gè)1平方毫米的方格，劃格的深度以露出底材為止，再用3M610號膠帶紙用力粘貼在方格面，1分鐘后迅速以90度的角度撕脫3次，檢
方格面油漆是否有脫落。
檢驗標準：方格面油漆脫落應小于3%，并且沒(méi)有滿(mǎn)格脫落。
7.4.3.汗液測試（Perspiration Test）
測試環(huán)境：60 oC，95%RH
測試目的：表面抗汗液腐蝕能力
試驗方法：把濾紙放于酸性（PH=2.6）溶液充分浸透，用膠帶將浸有酸性溶液的濾紙粘在樣品噴漆表面，確保試紙與樣品噴漆表面充分接觸，然后放在測試環(huán)境中，在24小時(shí)檢查一次，48小
后，將樣品從測試環(huán)境中取出，并且放置2小時(shí)后，檢查樣品表面噴漆。
檢驗標準：噴漆表面無(wú)變色、起皮、脫落、褪色等異常。
7.4.4.硬度測試（Hardness Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
測試目的：表面噴涂硬度測試
試驗方法：用2H鉛筆，在45度角下，以1Kg的力度在樣品表面從不同的方向劃出3~5cm長(cháng)的線(xiàn)條3~5條。
檢驗標準：用橡皮擦去鉛筆痕跡后，在油漆表面應不留下劃痕。
7.4.５. 鏡面摩擦測試（Lens Scratch Test）
測試環(huán)境: 室溫（20~25° C）；
測試目的：鏡面抗劃傷測試
試驗方法：用Scratch Tester將實(shí)驗樣品固定在實(shí)驗機上，用載重（load）為500g的力在樣品表面往復劃傷50次。
檢驗標準：鏡面表面劃傷寬度應不大于100μm（依靠目視分辨、參照缺陷限度樣板）
7.4.6 紫外線(xiàn)照射測試（UV illuminant Test）
測試環(huán)境：50° C測試目的：噴涂抗紫外線(xiàn)照射測試
試驗方法：在溫度為50°C，紫外線(xiàn)為340W/mm2的光線(xiàn)下直射油漆表面48小時(shí)。試驗結束后將手機外殼取出，在常溫下冷卻2小時(shí)后檢查噴漆表面。
檢驗標準：油漆表面應無(wú)褪色，變色，紋路，開(kāi)裂，剝落等現象。
7.5.1. 低溫跌落試驗（Low temperature Drop Test）
測試環(huán)境：-10° C
樣機數量: 3臺
測試目的：樣機低溫跌落測試
試驗方法：將手機進(jìn)行電性能參數測試后處于開(kāi)機狀態(tài)放置在-10°C的低溫試驗箱內1小時(shí)后取出，進(jìn)行1.2米的６個(gè)面跌落，２個(gè)循環(huán)，要求3分鐘內完成跌落，方法同常溫跌落。
檢驗標準：手機外觀(guān)，結構，功能和電性能參數符合要求。
7.5.2. 扭曲測試（Twist Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
樣機數量: 2臺
測試目的：抗扭曲測試
試驗方法：將手機處于開(kāi)機狀態(tài)，固定在扭曲試驗機上，用2N m力矩反復扭曲手機1000次。對于滑蓋手機，應將一半樣品滑開(kāi)到上限位置。
檢驗標準：手機沒(méi)有變形,外觀(guān)無(wú)異常，各項功能正常。
7.5.3. 坐壓測試（Squeeze Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
樣機數量: 2臺
測試目的：抗坐壓測試
試驗方法：將手機處于開(kāi)機狀態(tài)，放置在坐壓試驗機上，用45Kg力反復擠壓手機1000次。 對于滑蓋手機，應將一半樣品滑開(kāi)到上限位置。
檢驗標準：手機沒(méi)有變形,外觀(guān)無(wú)異常，各項功能正常。
7.5.4. 鋼球跌落測試（Ball Drop Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；100g鋼球。
樣機數量: 2臺
測試目的：鏡蓋強度測試
試驗方法：鏡蓋表面：用100g鋼球，從20cm高處，以初速度為0的狀態(tài)，垂直打擊鏡蓋表面。
檢驗標準：手機鏡蓋無(wú)變形，無(wú)裂縫，無(wú)破損（允許有白點(diǎn)）， LCD功能正常。
7.6.1螺釘的測試（Screw Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
樣機數量: 3臺
測試目的：螺釘拆裝疲勞測試
試驗方法：將手機平放在試驗臺上用允許的最大扭矩(由設計工程師和生產(chǎn)工程師提供), 對同一螺釘在同一位置反復旋動(dòng)螺釘10次.
檢驗標準：試驗中和完成后,螺紋沒(méi)有變形,損壞,滑絲,用肉眼觀(guān)察沒(méi)有裂紋;INSERT不能有明顯的松動(dòng),劃絲;螺釘口(包括機械和自攻螺釘)不能有明顯的松動(dòng),劃絲。
7.6.2掛繩孔強度的測試（Hand Strap Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；
樣機數量: 2臺
測試目的：掛繩孔結構強度測試
試驗方法：將掛繩穿過(guò)掛繩孔并以2圈/秒的速率在垂直的平面內轉動(dòng)100圈,然后用拉力計以持續不斷的力拉手機的掛繩.
檢驗標準：手機的掛繩能容易的穿過(guò)掛繩孔(不借助于特殊的工具);轉動(dòng)手機時(shí),掛繩 孔不能被損壞; 掛繩孔的破壞力不能小于12kgf(117N)
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